針對(duì)目標(biāo)檢測(cè)模型的物理對(duì)抗攻擊綜述
計(jì)算機(jī)工程與應(yīng)用
頁(yè)數(shù): 15 2024-01-18
摘要: 深度學(xué)習(xí)模型容易受到對(duì)抗樣本的影響,在圖像上添加肉眼不可見(jiàn)的微小擾動(dòng)就可以使訓(xùn)練有素的深度學(xué)習(xí)模型失靈。最近的研究表明這種擾動(dòng)也存在于現(xiàn)實(shí)世界中。聚焦于深度學(xué)習(xí)目標(biāo)檢測(cè)模型的物理對(duì)抗攻擊,明確了物理對(duì)抗攻擊的概念,并介紹了目標(biāo)檢測(cè)物理對(duì)抗攻擊的一般流程,依據(jù)攻擊任務(wù)的不同,從車(chē)輛檢測(cè)和行人檢測(cè)兩個(gè)方面綜述了近年來(lái)一系列針對(duì)目標(biāo)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)的物理對(duì)抗攻擊方法,簡(jiǎn)單介紹了其他針對(duì)目標(biāo)檢... (共15頁(yè))