Hg_(0.72)Cd_(0.28)Te掃描隧道譜的模型解釋
紅外與毫米波學(xué)報(bào)
頁數(shù)： 5 2024-06-15
摘要： 本工作利用截面掃描隧道顯微鏡（XSTM）研究了分子束外延生長的Hg_(0.72)Cd_(0.28)Te薄膜。掃描隧道譜（STS）測(cè)量表明，此碲鎘汞材料的電流-電壓（I/V）隧道譜呈現(xiàn)的零電流平臺(tái)寬度（隧道譜表觀帶隙）比其實(shí)際材料帶隙增大約130%，說明存在明顯的針尖誘導(dǎo)能帶彎曲（TIBB）效應(yīng)。STS三維TIBB模型計(jì)算發(fā)現(xiàn)低成像偏壓測(cè)量時(shí)獲取的I/V隧道譜數(shù)據(jù)與理論計(jì)算結(jié)果有... （共5頁）
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