基于子孔徑特征數(shù)據(jù)集的光學(xué)表面疵病拼接方法

摘要： 針對(duì)大口徑光學(xué)元件表面疵病檢測(cè)中子孔徑圖像數(shù)量較多、在全孔徑拼接過程中存儲(chǔ)及處理數(shù)據(jù)量大的問題，提出了一種基于子孔徑特征數(shù)據(jù)集的光學(xué)表面疵病拼接方法。該方法由子孔徑圖像及其重疊區(qū)域圖像中提取疵病特征數(shù)據(jù)構(gòu)建子孔徑特征數(shù)據(jù)集，并通過特征數(shù)據(jù)集實(shí)現(xiàn)子孔徑相對(duì)位置關(guān)系確定及全孔徑疵病拼接。通過實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，本文方法可以有效實(shí)現(xiàn)全孔徑疵病目標(biāo)拼接，并且與基于模板匹配法的全孔徑圖像拼接方法相... （共10頁）