表面光電壓

　　表面光電壓是固體表面的光生伏特效應(yīng)，是光致電子躍遷的結(jié)果。早在1876年，W.G.Adams就發(fā)現(xiàn)了這一現(xiàn)象，然而直到1948年才將這一效應(yīng)作為光譜檢測技術(shù)應(yīng)用于半導(dǎo)體材料的特征參數(shù)和表面特性研究上，這種光譜技術(shù)稱為表面光電壓技術(shù)(SurfacePhotovoltaicTechnique)或表面光電壓譜(SurfacePhotovoltageSpectroscopy，簡稱SPS)。表面光電壓技術(shù)是一種研究半導(dǎo)體特征參數(shù)的極佳途徑，這種方法是通過對材料光致表面電壓的改變進行分析來獲得相關(guān)信息的。1970年，表面光伏研究獲得重大突破，美國麻省理工學(xué)院Gates教授領(lǐng)導(dǎo)的研究小組在用低于禁帶寬度能量的光照射CdS表面時，歷史性的第一次獲得入射光波長與表面光電壓的譜圖，以此來確定表面態(tài)的能級，從而形成了表面光電壓譜這一新的研究測試手段。